多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級顯微鏡需求

原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。

納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM).

倒置光學顯微鏡（IOM）便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

通過驗證的NX10性能

通過倒置光學顯微鏡樣品平臺，Park NX12將Park原子力顯微鏡的多功能性和準確性相結合。這使得使用者更容易的使用納米管技術去研究透明，不透明，或軟或硬的樣品。

電化學測試的較佳平臺

電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學研究是個快速增長的領域，然而許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。Park NX12的人性化設計，為快速操作提供便利，從而達到化學研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括：

多功能易用電化學池

惰性氣體和濕度的環境控制選項

雙恒電位儀的兼容性

研究人員可利用Park NX12平臺實現各種電化學應用：

掃描電化學顯微鏡(SECM)

掃描電化學池顯微鏡(SECCM)

電化學原子力顯微鏡（EC-AFM）和電化學掃描隧道顯微鏡( EC-STM)

考慮建立多用戶設備

Park NX12完全重新構建，以適應多用戶設備需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性，難以滿足該設備中用戶的多重需求，很難合理控制設備成本。然而，Park NX12旨在能夠容納標準環境原子力顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡，光學和納米光學成像，使其成為靈活的原子力顯微鏡之一。

模塊化設計

Park NX12是專門針對專業電化學研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。

它基于化學和電化學性質，氣體和液體中介質的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案，可用于廣泛的不透明和透明材料。

Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術的納米管，易用性強。

Park NX12準確度很高，是多用戶設備和職業研究人員的好平臺。

多功能應用

Park NX12功能廣泛，包括液體中的PinPoint ?和納米力學，倒置光學顯微鏡定位透明樣品，離子電導顯微鏡超軟樣品成像，以及改善透明樣品光學性能的可視性。

綜合性的力譜方法

Park NX12提供了一種在液態和空氣中的納米力學表征的完整套餐，使其成為廣泛應用中的理想選擇.

模塊化

NX12模塊化設計，安裝簡單，兼容性強，可以滿足您的多種實驗需求。

適合早期職業研究人員的原子力顯微鏡

Park NX12不僅是入門之選，同時還提供了可隨著職業發展而不斷壯大的模塊化平臺。Park NX12配有研究級精度和功能，可為在空氣和液體中的透明和不透明材料提供其表面形態納米級分辨率。

Park SmartScan?自動模式下的單擊成像

Park NX12配備了SmartScan?操作系統，使其成為市場上易使用的原子力顯微鏡之一。其界面直觀給力，即使是未經培訓的用戶也可以無需監控，快速掃描樣品。這使得研究人員能夠將他們的經驗專注在解決更大的問題和開發更好的方案。

易使用性

共享實驗室的用戶通常背景各異，經驗水平各異。NX12為每個用戶提供簡單的點擊界面和自動化SmartScan?模式。

功能好

NX12的功能和精度通常在較高價格的方案中可見，包括：

電動對焦平臺

完全集成的原子力顯微鏡光學器件伴隨針尖減少監管的需要。

智能掃描使自動化的多重高質量掃描變得簡單。

Park的SmartScan?自動化功能允許用戶點擊按鈕進行掃描并創建自動化腳本。NX12同樣為離子電導顯微鏡提供SmartScan?。

倒置光學顯微鏡（IOM）

NX12的倒置光學顯微鏡使用戶能夠輕松使用納米管技術測量透明樣品。

PinPoint?化學品（掃描電化學顯微鏡）

NX12的PinPoint?模式使用戶通過高分辨率原子力顯微鏡針尖來操作掃描電化學顯微鏡，并且具有很高的精度。

雙恒電器兼容性

允許掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡和離子電導顯微鏡之間的簡單轉換。

多功能濕度和溫度控制選項

Park NX12能在測量之前和測量過程中控制濕度和溫度。

燈光可輕易投射到驅動聚焦平臺

該系統在測量期間可以從各個角度，頂部，側面以及底部光纖接入探針。這種可以大范圍投置燈光的方式與設備模塊設計相結合，還可添加光學或納米學附件。

綜合力譜方案

Park NX12為液體和空氣中的納米機械表征提供完整封裝，使其成為廣泛應用的較好選擇。

規格

掃描器

Z掃描器

AFM 掃描頭
柔性引導高推動力掃描器
掃描范圍：15μm(可選 30μm)

SICM 掃描頭
多層壓電疊層驅動器驅動的柔性引導結構
掃描范圍：15μm(可選 30μm)

XY 掃描器

閉環控制的柔性引導XY掃描器
掃描范圍：100μm ×100μm

驅動臺

XY 驅動臺行程范圍: 50 mm x 50 mm Z 驅動臺行程范圍: 25 mm

聚焦驅動臺行程范圍: 15 mm

影像

樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野: 840 μm × 630 μm (10倍物鏡)
攝像頭:5 M Pixel (默認), 1M Pixel (可選)

物鏡
10倍 (NA. 0.23) 超長工作距離鏡頭
20倍 (NA. 0.35) 高分辨率，長工作距離鏡頭

電子

信號處理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位

集成功能
3通道數字鎖相放大器彈性系數校準(熱方法) 數據Q 控制

選項/模式

標準成像:真正的非接觸模式, 接觸模式, 側向摩擦力顯微術(LFM), 相位成像模式, 輕敲模式, Pinpoint?模式：Pinpoint成像

化學性能:掃描電化學池顯微鏡(SECCM), 掃描電化學顯微鏡(SECM), 電化學原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學掃描隧道顯微鏡(EC-STM), 功能化探針的化學力顯微鏡

介電／壓電性能:靜電力顯微鏡, 動態接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC), 壓電力顯微鏡 (PFM), 高電壓PFM

力測量:力－距離(F-D)光譜, 力譜成像

磁性能:磁力顯微鏡(MFM), 可調外加磁場MFM

熱性能:掃描熱顯微鏡(SThM)

電性能:導電AFM(CP-AFM), Pinpoint? 導電AFM, I-V譜線, 掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM), 高電壓SKPM, QuickStep?掃描電容顯微鏡(SCM), 掃描電阻顯微鏡(SSRM), 掃描隧道顯微鏡(STM), 掃描隧道光譜(STS), 光電流測繪(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)

機械性能: Pinpoint?納米力學模式, 力調制顯微鏡(FMM), 納米壓痕, 納米刻蝕, 高電壓納米刻蝕, 納米操縱

軟件

Park SmartScan?
AFM系統控制和數據采集的專用軟件自動模式的快速設置和簡易成像手動模式的上等使用和更精密的掃描控制

XEI
AFM數據分析軟件獨立設計-可獨立安裝和分析數據能夠生成采集數據的3D繪制

配件

控溫臺、手套箱 、磁場發生器、液態選項、隔音罩